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扬声器寿命测试系统

公开(公告)号:CN109600705A

申请日:2019.01.08

公开(公告)日:2019.04.09

分类号:H04R29/00(2006.01)I

申请(专利权)人:武汉市聚芯微电子有限责任公司

申请日期:2019.01.08

本发明实施例提供了一种扬声器寿命测试系统,可以通过上位机有效的监控批量扬声器的实时工作状态,并保存整个测试状态的测试数据,样本数量多,测试时间长,数据量丰富。上位机根据单片机发送的信息以及每个测流电阻连接的扬声器中振膜的振幅,可以对扬声器寿命测试过程进行分析,进而判断扬声器是否损坏,不需要等待扬声器厂家测试后才能得到反馈,缩短了判断周期。还可以进一步确定与每个测试电阻连接的扬声器在何时、什么条件下损坏,有助于对扬声器的某种保护措施给出合理的反馈意见。