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一种红外光学系统外部杂散光测试装置及测试方法

公开(公告)号:CN109813536A

申请日:2019.03.14

公开(公告)日:2019.05.28

分类号:G01M11/02 G02B17/06

申请(专利权)人:长春理工大学

申请日期:2019.03.14

本发明公开了一种红外光学系统外部杂散光测试装置及测试方法,包括光源、平行光管、转台、滑动导轨、第一支架、第二支架、透镜安装座、显微系统、探测器;在测试中,将红外光学系统外部杂散光测试装置置于暗室中,光源光线依次经过平行光管中的次反射镜和主反射镜反射变为平行光束,调整使平行光管、红外光学系统、显微系统、探测器位于同一光轴上,探测器记录图像数据,分别从不同角度引入外部杂散光,探测器多次记录图像数据。本发明的优点在于原理简单,通用各种中波红外光学系统,可以定性定量地对红外光学系统外部杂散光进行测量,精确评估红外光学系统对外部杂散光的抑制水平。