一种存储器晶圆测试方法

本发明公开了一种存储器晶圆测试方法，包括以下步骤：S100，建立根据坐标判断所需测试条件的晶圆测试程序库，并设定一张晶圆内每组芯片所需的测试条件，将测试条件打包在晶圆测试程序包中；S200，在每一组芯片开始测试前，将每次接触的一组芯片的首个芯片坐标值传给控制程序，控制程序将自动判断当前正在测试的芯片，并选择相应的测试条件，实现自动化调整测试条件过程。本发明弥补了传统晶圆测试方法的不足；在一张晶圆内不同组之间设置测试条件可以提前预制测试方案，灵活设置测试条件，以实现自动化测试过程。